測量金屬基體的涂層測厚儀其測量原理一般有磁性法和渦流法，而測量手機殼上的鍍層厚度（這里所說的是指金屬基體上的鍍層的厚度）一般都是用的是渦流測厚法。使用漆膜測厚儀（https://www.linshangtech.cn/applist2/）測量手機鍍層的厚度過程中，應盡量保證專人專用和保管儀器。這是因為長期讓高精度的涂層測厚儀處于工作狀態可能會加快儀器的損壞程度，也會使最終的測量結果異常。

林上LS220H漆膜測厚儀參數：

測量原理         Fe:霍爾效應 / NFe:電渦流

測量范圍         0.0-2000μm

分辨率     0.1μm:(0μm-99.9μm)

0.01mm:(1.00mm-2.00mm)

測量精度         ≤±(3%讀數+2μm)

單位         μm / mil

最小測量區域         ? = 25mm

最小基體厚度         Fe:0.2mm/NFe:0.05mm

顯示         128×48點陣LCD

供電方式         2節 1.5V AAA堿性電池

工作溫度范圍         0℃-50℃

存儲溫度范圍         -20℃-60℃

主機尺寸         101*62*28 mm

測量手機鍍層的厚度我們一般使用林上LS220H漆膜測厚儀。這款儀器為側頭與主機一體式的設計，測量數據塊測試數據精準。0.5秒即可完成一次測量。而且測，探頭采用先進的數字探頭可以長時間保持零位穩定不漂移。在同一個位置可以反復測量數據穩定。

在漆膜測厚儀工作時也要保持環境的穩定，減少磁場和人為因素的影響。不隨意拆卸儀器，減少儀器受外物腐蝕的情況。定時對漆膜測厚儀進行檢測，出現故障時要及時送回廠家進行維修，才能保持漆膜測厚儀的正常使用壽命和準確的測量結果。