產地

德國

德國

測量元素范圍

Ti²²---U⁹²

鍍層和成分分析

鍍層：最多同時測定5層（4層鍍層+基體材料）

成分：最多同時測量20種元素

測量方法

FP（經驗數據法），無需標準樣片

X射線激發

50Kv、1.2mA(60W)高壓發生器

微聚焦W靶X射線管

成像系統

彩視頻系統

20倍放大倍數

被測樣品圖像實時顯示功能

 電腦顯示屏具有畫中畫功能

計算機系統

Inter Pentium G2030，內存2G，硬盤500G

17吋液晶彩色顯示器

Microsoft^TM Win7

32bit

樣品臺規格

X-Y手動樣品臺：600×600mm，最承重25Kg，最樣品高度175mm或350mm可調

X-Y程控樣品臺：X-Y臺面尺寸300×250mm，最承重5Kg，最樣品高度180mm，程控距離X=300mm、Y=250mm

儀器外形

長×寬×高700×770×700mm（不含電腦、顯示器）

最樣品

X-Y手動樣品臺：長×寬×高600×500×350mm

X-Y程控樣品臺：長×寬×高600×500×180mm

程控Z軸移動距離

≤180mm，可使用鼠標或手柄控制

主機重量

90Kg（不含電腦、顯示器）

準直器規格

可選單準直器、多準直器

多準直器程控交換

可選園形、矩形準直器

單準直器任選：?0.2、?0.3、?0.5、0.1×0.3mm

多準直器選項：①?0.2、0.06×0.06、0.05×0.15、0.1×0.2mm；②?0.1、?0.20、0.06×0.06、0.05×0.15mm

可選單準直器、多準直器

多準直器程控交換

可選園形、矩形準直器

單準直器任選：?0.3、?0.4、?0.5、0.2×0.5mm

多準直器：?0.3、?0.5、0.1×0.7、0.2×0.7mm

探測器

正比例計數器

25mm²半導體（Si-PIN）探測器，Peltier電制冷

軟件模塊可選

μ-Master用于鍍層測量

Element--Master用于材料分析

%-Master用于材料分析（珠寶）

Report-Master用于微軟報告文件

Data-Master用于數據庫管理

Liquid-Master用于電鍍液分析